English
Polski
@prefix azonOnto: <http://id.e-science.pl/ontologies/azonOnto#> .
@prefix collection: <http://id.e-science.pl/vocab/collection/> .
@prefix dcterms: <http://purl.org/dc/terms/> .
@prefix kv: <http://id.e-science.pl/vocab/kv/> .
@prefix person: <http://id.e-science.pl/vocab/person/> .
@prefix rdf: <http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#> .
@prefix rdfs: <http://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#> .
@prefix records: <http://id.e-science.pl/records/> .
@prefix skos: <http://www.w3.org/2004/02/skos/core#> .
@prefix unit: <http://id.e-science.pl/vocab/unit/> .
@prefix xml: <http://www.w3.org/XML/1998/namespace> .
@prefix xsd: <http://www.w3.org/2001/XMLSchema#> .
records:13879 a azonOnto:Synopsis ;
azonOnto:acceptanceDate "2018-06-22"^^xsd:date ;
azonOnto:authorInfo [ a azonOnto:AuthorInfo ;
azonOnto:affiliation unit:1 ;
azonOnto:author person:1634 ;
azonOnto:position 1 ] ;
azonOnto:collection collection:1,
collection:7 ;
azonOnto:creationYear 2018 ;
azonOnto:description "Streszczenie pracy magisterskiej Marka Zoryło, napisanej pod kierunkiem dr. inż. Macieja Kowalskiego."@pl ;
azonOnto:destinationGroup "naukowcy"@pl,
"przedsiębiorcy"@pl,
"studenci"@pl ;
azonOnto:fileInfo [ a azonOnto:FileInfo ;
azonOnto:name "Wpływ_promienia_zaokrąglenia_igły_pomiarowej_i_kroku_próbkowania_na_dokładność_odwzorowania_profilu_chropowatości_powierzchni.docx"^^xsd:string ;
azonOnto:uri "https://data.e-science.pl/13879/Wpływ_promienia_zaokrąglenia_igły_pomiarowej_i_kroku_próbkowania_na_dokładność_odwzorowania_profilu_chropowatości_powierzchni.docx"^^xsd:anyURI ] ;
azonOnto:harmfulContent false ;
azonOnto:keywordInfo [ a azonOnto:KeywordInfo ;
azonOnto:name "metrologia elektryczna"@pl ;
azonOnto:uri "http://id.e-science.pl/vocab/kv/c54177"^^xsd:anyURI ],
[ a azonOnto:KeywordInfo ;
azonOnto:name "pomiary chropowatości"@pl ;
azonOnto:uri "http://id.e-science.pl/vocab/kv/c78466"^^xsd:anyURI ],
[ a azonOnto:KeywordInfo ;
azonOnto:name "profil chropowatości"@pl ;
azonOnto:uri "http://id.e-science.pl/vocab/kv/c84384"^^xsd:anyURI ],
[ a azonOnto:KeywordInfo ;
azonOnto:name "chropowatość"@pl ;
azonOnto:uri "http://plwordnet.pwr.wroc.pl/wordnet/synset/34373"^^xsd:anyURI ] ;
azonOnto:language "Polski"^^xsd:string ;
azonOnto:licenseInfo [ a azonOnto:LicenseInfo ;
azonOnto:name "CC BY-SA 4.0"^^xsd:string ;
azonOnto:uri "https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/legalcode.pl"^^xsd:anyURI ] ;
azonOnto:numberOfPages 1 ;
azonOnto:partner [ a azonOnto:Organization ;
azonOnto:name "Politechnika Wrocławska"^^xsd:string ] ;
azonOnto:placeOfCreation "Wrocław"^^xsd:string ;
azonOnto:scientificDiscipline "dziedzina nauk technicznych / mechanika (2011)"@pl ;
azonOnto:source [ a azonOnto:Source ;
azonOnto:authorInfo [ a azonOnto:AuthorInfo ;
azonOnto:author person:9654 ] ;
azonOnto:publicationPlace "Wrocław"^^xsd:string ;
azonOnto:publicationYear 2011 ;
azonOnto:publisher "Politechnika Wrocławska"^^xsd:string ;
azonOnto:title "Wpływ promienia zaokrąglenia igły pomiarowej i kroku próbkowania na dokładność odwzorowania profilu chropowatości powierzchni"@pl ] ;
azonOnto:submitter [ a azonOnto:Person ;
azonOnto:name "Hubert Skowronek"^^xsd:string ] ;
azonOnto:title "Wpływ promienia zaokrąglenia igły pomiarowej i kroku próbkowania na dokładność odwzorowania profilu chropowatości powierzchni"@pl .