naukowcy
uczniowie
Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (2018)
Model probabilistyczny pewnej klasy systemów technicznych o losowo zmiennej w czasie strukturze niezawodnościowej. Rozprawa doktorska (PD-1986-07-R)
studenci
Rozprawa dotyczy problemu niezawodności systemów wielostanowych o stanach zależnych i zmiennej losowo w czasie strukturze niezawodnościowej. Celem rozprawy jest wykazanie, że pominięcie dynamiki losowych zmian może prowadzić do znaczących błędów w ocenie niezawodności, a uwzględnienie jedynie uśrednionych wyników i traktowanie ich jako stałych w czasie nie jest wystarczające. Praca przedstawia opis rozpatrywanej klasy systemów technicznych, konstrukcję modelu probabilistycznego wraz z wyznaczeniem jego charakterystyk. Wyprowadzono wzory na obliczenie podstawowych wskaźników niezawodności. Wykorzystano teorię procesów stochastycznych, w szczególności teorię procesów semiregulujących się, a jako przykład całej klasy systemów przedstawiono system napędowy anteny stacji radiolokacyjnej.
system reliability
niezawodność systemu
zmienna w czasie struktura niezawodnościowa
time dependent reliability structure
Instytut Badań Systemowych PAN w Warszawie